Explore les méthodes d'analyse de surface à l'aide d'électrons, d'ions, d'atomes et de photons, en soulignant l'importance du ToF-SIMS pour une analyse de surface approfondie dans divers domaines.
Explore la recristallisation, les phénomènes de déformation et la croissance des grains dans les matériaux, en se concentrant sur les variations d'énergie, la cinétique et les valeurs critiques pour la stabilité.
