Posez n’importe quelle question sur les cours, conférences, exercices, recherches, actualités, etc. de l’EPFL ou essayez les exemples de questions ci-dessous.
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Couvre les composants et les technologies utilisés en microscopie électronique, y compris les détecteurs, les lentilles, les aberrations et les porte-échantillons.
Explore les aberrations optiques, l'alignement, la mise au point, les mesures, l'analyse d'images et la correction d'erreurs dans les évaluations optiques.
Explore la microscopie électronique à transmission à haute résolution pour l'imagerie de la structure cristalline, couvrant les aberrations, les valeurs de défocalisation, les correcteurs CS et les techniques avancées.
Explore les aspects pratiques de l'interféromètre Fabry-Perot, y compris la résolution, la réflectivité et l'alignement à l'aide de miroirs diélectriques.
Explore les aberrations optiques en microscopie, y compris sphérique, chromatique, le coma, l'astigmatisme, et plus encore, impactant la qualité d'image et les méthodes de correction.
Présente les bases de l'étalonnage de la caméra, y compris l'estimation des paramètres, les limitations du modèle de sténopé, l'imagerie de l'objectif, la profondeur de champ et les distorsions de l'objectif.
