Couvre les composants et les technologies utilisés en microscopie électronique, y compris les détecteurs, les lentilles, les aberrations et les porte-échantillons.
Explore les aberrations optiques, l'alignement, la mise au point, les mesures, l'analyse d'images et la correction d'erreurs dans les évaluations optiques.
Explore la microscopie électronique à transmission à haute résolution pour l'imagerie de la structure cristalline, couvrant les aberrations, les valeurs de défocalisation, les correcteurs CS et les techniques avancées.
Explore les aspects pratiques de l'interféromètre Fabry-Perot, y compris la résolution, la réflectivité et l'alignement à l'aide de miroirs diélectriques.
Explore les aberrations optiques en microscopie, y compris sphérique, chromatique, le coma, l'astigmatisme, et plus encore, impactant la qualité d'image et les méthodes de correction.
Présente les bases de l'étalonnage de la caméra, y compris l'estimation des paramètres, les limitations du modèle de sténopé, l'imagerie de l'objectif, la profondeur de champ et les distorsions de l'objectif.
Explique la fonction de transfert de contraste de phase dans la microscopie électronique de transmission et son impact sur la qualité de l'image.
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