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Couvre les techniques d'imagerie par microscopie électronique en transmission à haute résolution, en se concentrant sur le contraste de phase, les simulations et l'impact des aberrations sur l'interprétation des images.
Introduction de la spectroscopie par photoélectrons à rayons X (XPS) pour l'analyse de surface, couvrant les principes, les applications, le processus d'analyse et les techniques de profilage en profondeur.
Introduit la diffraction de rétrodiffusion électronique (EBSD) dans le SEM pour l'analyse microstructurale de divers matériaux, en mettant l'accent sur la préparation des échantillons et l'indexation des motifs.
Couvre la source d'ions ALIS He et son application en microscopie à haute résolution, fournissant des détails de surface et un contraste de matériau remarquables.
Explore les techniques avancées en microscopie électronique de transmission, en se concentrant sur l'imagerie de contraste de phase et les réglages de la caméra.
