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Couvre la microanalyse de rayons X à dispersion d'énergie, explorant la génération, la détection, la quantification et les défis de rayons X dans l'analyse élémentaire précise.
Explore l'histoire de la lithographie par sonde thermique, le système Millipede, l'écriture AFM, la modélisation 3D et les techniques émergentes de nanostructuration.
Explique la détermination de l'épaisseur du film à l'aide de techniques XPS et AES, couvrant les principes, l'instrumentation et les comparaisons analytiques.
Explore les concepts avancés dans les accélérateurs de particules, y compris les aimants, les nouvelles techniques, l'instrumentation, l'optimisation, le diagnostic, les mesures de sécurité, les anneaux de stockage et les moniteurs de lumière synchrotron.
Présente EBSD et ESEM, couvrant l'acquisition, la préparation d'échantillons, l'indexation, les applications et l'analyse de données, ainsi que le fonctionnement et les avantages d'ESEM.
Explore la spectroscopie à rayons X dispersive (EDS) en microscopie électronique, couvrant la génération de rayons X, la détection, la quantification et la cartographie des éléments dans les échantillons.
Couvre la microanalyse par rayons X à dispersion d'énergie, expliquant comment les rayons X révèlent la composition élémentaire et discutant de la génération, de la détection, de l'efficacité et de la quantification des rayons X.
