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Fournit une vue d'ensemble de la technologie derrière les portes logiques, couvrant les familles TTL et CMOS et abordant les dangers statiques et dynamiques, les horloges fermées et le débouncing des commutateurs.
Couvre les principes fondamentaux de la microscopie à sonde à balayage, y compris son histoire, ses principes, ses instruments et ses applications dans la recherche et l'industrie des semi-conducteurs.
Explore la résistance au contact dans les dispositifs semi-conducteurs, y compris la loi de Moore, les caractéristiques FET, les limites quantiques et les techniques de mesure.
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Explore les techniques de gravure sèche dans le traitement des semi-conducteurs, des réacteurs à baril aux sources de plasma modernes comme ICP et ECR.
Explore les appareils d'imagerie à rayons X et gamma, les détecteurs de semi-conducteurs et les applications de transport de charge dans les détecteurs.
