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Explore les techniques de test pour les systèmes VLSI numériques, couvrant la modélisation des défauts, la génération de modèles de test et la conception pour la testabilité.
Explore l'impact des variations de PVT, les incertitudes dans la conception des circuits intégrés, les paradigmes de conception dans le pire des cas et l'importance des simulations Monte-Carlo.
Explore les principes et les méthodologies de conception des circuits intégrés, couvrant les flux de conception, les styles VLSI, les niveaux d'abstraction et l'écosystème des semi-conducteurs.
Introduit des schémas de configuration dans les circuits intégrés, couvrant les règles de conception, les schémas physiques et la prévention du verrouillage CMOS.
Explore le flux de conception du backend dans la conception ASIC semi-personnalisée, couvrant la mise en page, la génération d'arbre d'horloge et la préparation du ruban adhésif.
Couvre les éléments de mémoire dynamiques, les verrous, les bascules, les paramètres de synchronisation, le décalage d'horloge et la canalisation synchrone.
Explore le flux de conception RTL, l'intégration au niveau de la puce, les cellules standard et l'analyse de synchronisation statique dans la conception VLSI.
