Test des systèmes VLSI

Cette séance de cours présente l'analyse et la mise en œuvre des techniques de test pour les systèmes numériques VLSI, couvrant des sujets tels que l'économie de test, l'équipement de test automatique et la conception pour la testabilité. Les étudiants en apprendront davantage sur la modélisation des défauts, la simulation des défauts et les mesures de testabilité, ainsi que sur la nécessité des tests VLSI et des algorithmes de test IC populaires. Le cours comprend également des séances pratiques de laboratoire informatique et un aperçu des outils logiciels de test EDA. Divers défauts dans les circuits intégrés sont discutés, ainsi que l'importance de la vérification et des tests dans le processus de fabrication des circuits intégrés. La séance de cours met l'accent sur l'impact économique des tests et les défis posés par la complexité et l'échelle des CI modernes.

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Séances de cours associées (5)

Concepts associés (69)

EE-530: Test of VLSI systems

Test of VLSI Systems covers theoretical knowledge related to the major algorithms used in VLSI test, and design for test techniques. Basic knowledge related to computer-aided design for test technique

Circuit intégré

Le circuit intégré (CI), aussi appelé puce électronique, est un composant électronique, basé sur un semi-conducteur, reproduisant une ou plusieurs fonctions électroniques plus ou moins complexes, intégrant souvent plusieurs types de composants électroniques de base dans un volume réduit (sur une petite plaque), rendant le circuit facile à mettre en œuvre. Il existe une très grande variété de ces composants divisés en deux grandes catégories : analogique et numérique.

Comparison of EDA software

This page is a comparison of electronic design automation (EDA) software which is used today to design the near totality of electronic devices. Modern electronic devices are too complex to be designed without the help of a computer. Electronic devices may consist of integrated circuits (ICs), printed circuit boards (PCBs), field-programmable gate arrays (FPGAs) or a combination of them. Integrated circuits may consist of a combination of digital and analog circuits.

Classe de complexité

En informatique théorique, et plus précisément en théorie de la complexité, une classe de complexité est un ensemble de problèmes algorithmiques dont la résolution nécessite la même quantité d'une certaine ressource. Une classe est souvent définie comme l'ensemble de tous les problèmes qui peuvent être résolus sur un modèle de calcul M, utilisant une quantité de ressources du type R, où n, est la taille de l'entrée. Les classes les plus usuelles sont celles définies sur des machines de Turing, avec des contraintes de temps de calcul ou d'espace.

Computational complexity

In computer science, the computational complexity or simply complexity of an algorithm is the amount of resources required to run it. Particular focus is given to computation time (generally measured by the number of needed elementary operations) and memory storage requirements. The complexity of a problem is the complexity of the best algorithms that allow solving the problem. The study of the complexity of explicitly given algorithms is called analysis of algorithms, while the study of the complexity of problems is called computational complexity theory.

Three-dimensional integrated circuit

A three-dimensional integrated circuit (3D IC) is a MOS (metal-oxide semiconductor) integrated circuit (IC) manufactured by stacking as many as 16 or more ICs and interconnecting them vertically using, for instance, through-silicon vias (TSVs) or Cu-Cu connections, so that they behave as a single device to achieve performance improvements at reduced power and smaller footprint than conventional two dimensional processes. The 3D IC is one of several 3D integration schemes that exploit the z-direction to achieve electrical performance benefits in microelectronics and nanoelectronics.

Test des systèmes VLSI EE-530: Test of VLSI systems

Explore les défauts, les erreurs et les modèles de défauts dans les systèmes VLSI, en mettant l'accent sur l'effondrement des défauts et la domination.

VLSI Testing : Techniques et économie EE-530: Test of VLSI systems

Explore les techniques de test pour les systèmes VLSI numériques, couvrant la modélisation des défauts, la génération de modèles de test et la conception pour la testabilité.

Test des systèmes VLSI EE-530: Test of VLSI systems

Explore les défauts, les erreurs et les défaillances dans les systèmes VLSI, y compris les modèles de défaillance et les défis de test.

Conception RTL semi-personnalisée: flux de conception et cellules standard EE-429: Fundamentals of VLSI design

Explore le flux de conception RTL, l'intégration au niveau de la puce, les cellules standard et l'analyse de synchronisation statique dans la conception VLSI.

Test des systèmes VLSI EE-530: Test of VLSI systems

Explore les rôles des tests dans les systèmes VLSI, les différentes méthodologies de test, l'analyse des coûts, les facteurs affectant le rendement et l'importance des tests dans les technologies modernes.