Joint Test Action Group

Le JTAG (pour Joint Test Action Group) est le nom de la norme IEEE 1149.1 intitulée « Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture », qui été normalisée en 1990. Le terme JTAG, désignant le groupe de travail qui a conçu la norme, est abusivement (mais très largement) utilisé au lieu du terme générique Boundary Scan, ou du sigle TAP (Test Access Port, port d'accès de test). Principe La technique de boundary scan (littéralement, « scrutation des frontières ») est conçue pour faciliter et automatiser le test des cartes électroniques numériques. Elle consiste à donner un accès auxiliaire aux broches d'entrée-sortie des composants numériques fortement intégrés. Initialement, le boundary scan était uniquement destiné au test des courts-circuits et de la continuité entre puces compatibles. Connaissant le schéma électrique de la carte électronique, on applique un ensemble de signaux logiques (appelé « vecteur de test ») sur les broches d'entrée de certains composants

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Monitoring and troubleshooting wireless sensor nodes by measuring the supply current waveform

Alexis Boegli, Pierre-André Farine, Mitko Tanevski

A troubleshooting method for debugging wireless sensor nodes using measurements of the supply current waveform and logic outputs is presented. The troubleshooting and debugging technique uses the supply current waveform in conjunction with the measurement of one or more logic output signals to assess problems which cannot be resolved using only the standard debugging interface for the node’s microcontroller like the JTAG debugger. The usage of logic output has a minimal probing effect on the sensor node’s firmware adding a minimum of 2 instructions in the simplest case. These measurements have been successfully used to monitor and troubleshoot a custom developed ultra low power sensor node (Fig. 3b).

Elsevier Ltd.2010

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Architecture ARM

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