Conception pour la testabilité: techniques et méthodes

Cette séance de cours couvre l'importance de la conception pour la testabilité (DFT) dans les systèmes VLSI, en mettant l'accent sur les techniques pour détecter les défauts, réduire la complexité des tests et améliorer l'accès aux tests. Il traite des méthodes DFT ad hoc, des approches DFT structurées, de la conception de numérisation, des modes de fonctionnement de numérisation et des procédures de mise en page de numérisation. La présentation comprend également des informations sur plusieurs techniques d'analyse et d'analyse partielle, ainsi que sur l'évolution des méthodes de test, passant du lit traditionnel d'ongles aux normes JTAG modernes.