Séance de cours
Faisceau d'ions ciblé : principes et applications
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SEM et FIB avancés
Explore les techniques avancées de SEM et la technologie FIB pour l'imagerie et la préparation d'échantillons.
Faisceau d'ions ciblé : principes et applications
Explore les principes et les applications de la technologie Focused Ion Beam, y compris les interactions ion-solide, le broyage ionique et la nanofabrication.
Technologies SEM avancées et exemples
Explore les technologies SEM avancées, les détecteurs et la préparation d'échantillons pour des capacités d'imagerie et d'analyse à haute résolution.
Technologies SEM avancées et exemples
Explore les technologies SEM avancées, l'imagerie basse tension, le SEM haute résolution et les capacités analytiques avec des exemples pratiques.
FIB Applications: Nanofabrication et analyse des défaillances
Explore les applications du faisceau d'ions focalisés (FIB) dans la nanofabrication et l'analyse des défaillances.
STEM & EDX
Couvre les principes de la microscopie électronique, STEM, HAADF, microanalyse EDX, et les applications en science des matériaux.
HRTEM: Formation d'images
Explore la formation d'images HRTEM par l'interférence de faisceaux transmis et diffractés, couvrant la fonction de transfert de contraste, la correction des aberrations et les techniques de récupération de phase.
Tomographie : principes et applications
Explore les principes et les applications de la tomographie, en présentant des exemples de tomographie directe et de techniques d'imagerie avancées.
Maximisation et regroupement des attentes
Couvre l'algorithme de maximisation des attentes et les techniques de regroupement, en mettant l'accent sur l'échantillonnage Gibbs et l'équilibre détaillé.
Microscopie électronique de transmission de base
Présente les bases de la microscopie électronique de transmission, couvrant l'interface utilisateur TEM, les paramètres de la caméra, la vue d'ensemble du vide et l'analyse d'images.