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Séance de cours
SEM et FIB avancés
Description
Cette séance de cours couvre les techniques avancées de microscopie électronique à balayage (SEM), y compris l'imagerie basse tension, les détecteurs et les SEM analytiques. Il explore également les principes et les applications de la technologie des faisceaux d'ions focalisés (FIB) pour l'imagerie, le fraisage et la préparation d'échantillons TEM.
Source officielle
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