Séance de cours
Cette séance de cours couvre le processus de fabrication de pointes et de porte-à-faux de microscopie à force atomique (AFM), y compris les techniques de microfabrication utilisées, telles que le microusinage en vrac et en surface, l'affûtage de pointes par oxydation et l'utilisation de nanotubes de carbone comme sondes. Il traite également des bases de l'oxydation thermique du silicium, de la formation de pointes moulées pour l'AFM et de la modification des pointes à l'aide d'un faisceau d'ions focalisé (FIB). L'instructeur souligne l'importance du processus de libération des porte-à-faux et de l'utilisation de pointes magnétiques pour la microscopie à force magnétique (MFM).