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Introduction de la spectroscopie par photoélectrons à rayons X (XPS) pour l'analyse de surface, couvrant les principes, les applications, le processus d'analyse et les techniques de profilage en profondeur.
Explore les synchrotrons, les techniques de rayons X, la tomographie ptychographique et la laminographie pour les reconstructions 3D à haute résolution et les études d'échantillons non destructifs.
Couvre la spectrométrie de photoélectrons à rayons X (XPS), une technique d'analyse de surface développée par Kai Siegbahn, expliquant ses composants, son mécanisme et ses méthodes d'analyse.
Couvre les propriétés du rayonnement synchrotron, y compris son émission par des particules relativistes et son effet sur le faisceau par amortissement du rayonnement.
Explore l'imagerie sans lentille et les techniques et applications d'imagerie diffractive par rayons X cohérentes, y compris l'imagerie 3D haute résolution de la souche nanocristal.