STEM et EDX

Cette séance de cours couvre les principes de STEM et EDX, en se concentrant sur les sources d'électrons, les interactions de faisceaux d'électrons avec des spécimens, le fonctionnement du microscope en mode diffraction, les détecteurs HAADF, la génération de rayons X et la microanalyse EDX. Il traite également des méthodes de quantification, des facteurs de correction, des simulations de volume d'interaction et du TEM analytique des fils supraconducteurs multifilaments. L'instructeur présente des exemples de balayages de ligne EDX, d'analyse de points, de cartographie d'éléments et d'analyse de limites de grains à l'aide d'EDX. La séance de cours souligne l'importance de la technologie SDD dans l'analyse EDX et présente des images de résolution atomique obtenues avec le Titan THEMIS STEM HAADF de l'EPFL.