STEM: Microscopie électronique à transmission par balayage
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Explore la fabrication de pointes et de porte-à-faux AFM, y compris l'affûtage de pointe, l'oxydation thermique, et l'utilisation de nanotubes de carbone comme sondes.
Explore la microscopie électronique de transmission de Lorentz in-situ et ultra-rapide, couvrant l'imagerie dynamique, les atomes d'observation, les charges, les spins, la dynamique du réseau, les skyrmions magnétiques et le contrôle cohérent à l'aide d'impulsions laser.
Explore la microscopie électronique à balayage électronique (ESEM) pour l'imagerie d'échantillons dans divers environnements et l'étude des transitions de phase.
Couvre les principes fondamentaux et les applications de la microanalyse par rayons X à dispersion d'énergie, en expliquant son fonctionnement et ses défis.
Présente des expériences de métrologie pratiques, couvrant des sujets tels que la métrologie quantique, les expériences à photons uniques et l'AFM pour les mesures nanométriques.
Explore la diffraction des électrons du faisceau convergent, les principes de couverture, l'alignement des échantillons, les effets d'épaisseur et les ressources pour une étude plus approfondie.
