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Séance de cours
Dispositifs semi-conducteurs II: Modélisation CV
Description
Cette séance de cours porte sur l'analyse de la détection des défauts par les mesures de CV, les défauts des matériaux 2D, les mesures de CV sur les matériaux 2D, la modélisation des défauts, les données expérimentales et la procédure à suivre. Il comprend également le calcul de la densité de charge, de la tension du canal, et le tracé du MoS2 DOS réel et idéal.
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