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Séance de cours
Dispositifs semi-conducteurs II: Défauts d'ingénierie
Description
Cette séance de cours porte sur l'analyse des mesures et des défauts de l'ingénierie des dispositifs semi-conducteurs. Parmi les sujets abordés, mentionnons la densité des états, la détection des défauts par les mesures de CV, les défauts sur les matériaux 2D et la modélisation des défauts DOS. On discute également d'exemples pratiques et d'analyses de données expérimentales.
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