Séance de cours

Dispositifs semi-conducteurs II: Défauts d'ingénierie

Dans cours

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Description

Cette séance de cours porte sur l'analyse des mesures et des défauts de l'ingénierie des dispositifs semi-conducteurs. Parmi les sujets abordés, mentionnons la densité des états, la détection des défauts par les mesures de CV, les défauts sur les matériaux 2D et la modélisation des défauts DOS. On discute également d'exemples pratiques et d'analyses de données expérimentales.

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Enseignants (2)

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Source officielle

https://mediaspace.epfl.ch/media/0_91zpbcvv

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Proximité ontologique

Physique

Physique de la matière condensée: Physique du solide

Électromagnétisme: Circuit électrique, Électrostatique

Informatique théorique

Théorie des langages de programmation: Langage de programmation de haut niveau

Génie informatique

Matériel informatique: Microprocesseur

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