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Explore les encorbellements à détection automatique dans la microscopie par sonde à balayage et les avantages des systèmes capteurs-actionneurs intégrés pour la collecte de données à grande vitesse.
Couvre les aspects généraux et les techniques de la microscopie, en mettant l'accent sur l'importance de la résolution et en explorant le tunneling de balayage et la microscopie à force atomique.
Explore les principes et les applications de la technologie Focused Ion Beam, y compris les interactions ion-solide, le broyage ionique et la nanofabrication.
Couvre les principes et les applications de la microscopie de la force atomique (AFM) pour la métrologie à l'échelle nanométrique, y compris les modes d'imagerie, les interactions tip-sample et le traitement de l'image.
Couvre l'écriture directe de laser pour la fabrication de micro-structure 3D utilisant des lasers étroitement concentrés et introduit le concept de microscopie stimulée de déplétion d'émission.
Explore la lithographie par sonde thermique, la nanolithographie Dip-Pen, la mouillabilité de surface, la feuille de route de stockage des données et le concept Millipede.
Déplacez-vous dans les propriétés nanométriques, en mettant l'accent sur les effets de surface et les phénomènes quantiques, la quantification de la conductance et la microscopie par sonde à balayage.
Présente des expériences de métrologie pratiques, couvrant des sujets tels que la métrologie quantique, les expériences à photons uniques et l'AFM pour les mesures nanométriques.
Explore les principes fondamentaux et les applications de la microscopie à sonde à balayage, y compris la configuration STM, la reconstruction de surface, le tunnel quantique et la microscopie à force de balayage.
