Couvre les lasers ultrarapides, l'optique non linéaire, la sélection des modes, le dumping des cavités et l'amplification des impulsions, explorant les contributions en physique et en chimie des lauréats du prix Nobel.
Explore les applications de la focalisation micron et submicron, de la cristallographie et des reconstructions tomographiques dans les lignes de faisceaux, ainsi que la nécessité d'optique secondaire et de différents types de lentilles.
Explore les progrès de la spectroscopie dispersive à rayons X en microscopie électronique moderne, en mettant l'accent sur la sensibilité analytique et les limites de détection.
Explore les aspects pratiques de la conception de l'optique primaire dans les lignes de faisceau, en se concentrant sur les miroirs à rayons X et les monochromateurs.
Explore les méthodes d'analyse de surface à l'aide d'électrons, d'ions, d'atomes et de photons, en soulignant l'importance du ToF-SIMS pour une analyse de surface approfondie dans divers domaines.
Couvre les bases des pinces optiques et leurs applications en microscopie, manipulation et spectroscopie, ainsi que l'alignement des molécules à l'aide d'impulsions laser.
