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Explore la perspective historique, les propriétés et les applications des rayons X, y compris la diffraction, la résolution atomique et les couleurs spectrales des éléments.
Explore la régression linéaire dans une perspective d'inférence statistique, couvrant les modèles probabilistes, la vérité au sol, les étiquettes et les estimateurs de probabilité maximale.
Explore les applications de la focalisation micron et submicron, de la cristallographie et des reconstructions tomographiques dans les lignes de faisceaux, ainsi que la nécessité d'optique secondaire et de différents types de lentilles.
Explore les rayonnements synchrotrons, les sources de rayons X, les réalisations scientifiques et les faits saillants récents de la science des synchrotrons.
Explore les principes de la tomographie par rayons X, y compris la génération, l'interaction avec la matière, les méthodes de détection et des exemples pratiques.
