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Explore les principes de la microscopie électronique à transmission par balayage (STEM), les détecteurs, les mécanismes de contraste et les applications en imagerie haute résolution.
Explore la perspective historique, les propriétés et les applications des rayons X, y compris la diffraction, la résolution atomique et les couleurs spectrales des éléments.
Introduit les bases de la microscopie électronique, couvrant les composants, les interactions, les modes d'imagerie et les techniques de nanofabrication.
Explore la diffusion de faisceaux multiples dans la diffraction des électrons, en se concentrant sur les modèles de diffraction de l'axe de zone et les approches théoriques.
Couvre les principes de la microscopie électronique à balayage, y compris les signaux SEM, les détecteurs et le spectre d'énergie des électrons, ainsi que l'efficacité de la génération de rayons X.
Explore les défis et les solutions pour gérer la dose d'électrons en microscopie, en soulignant l'importance d'un suivi et d'une analyse précis des doses.
