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Couvre le développement historique et les composantes clés de la microscopie électronique de transmission, y compris le pistolet à électrons, les lentilles, les ouvertures et les porte-échantillons.
Couvre les bases du réseau réciproque dans la diffraction des électrons, y compris la géométrie du vecteur de diffraction et les propriétés des vecteurs cellulaires de l'unité de réseau réciproque.
Couvre les composants et les technologies utilisés en microscopie électronique, y compris les détecteurs, les lentilles, les aberrations et les porte-échantillons.
Explore les techniques de préparation d'échantillons pour la TEM, telles que la méthode du coin clivé et l'ultramicrotomie, en soulignant leur importance dans l'obtention d'échantillons de haute qualité.
Explore les interactions faisceau-matière, les effets thermiques, les effets chimiques, les déplacements atomiques et les mécanismes d'émission de matière en microscopie électronique.
