Automatisation de testL'automatisation de test permet de jouer à volonté des tests de régression à la suite de la livraison d'une nouvelle version d'une application. L'automatisation d'un test n'a de sens que si le test répond à un certain nombre de critères : le test est systématique : il doit être exécuté à chaque nouvelle version de l'application. le test est répétitif : il est présent dans de nombreux scénarios de test. le test est automatisable : il est possible techniquement de faire jouer le test par un robot.
FaradLe farad (symbole : F), tiré du nom du physicien Michael Faraday, est l'unité dérivée de capacité électrique du Système international (SI). Un farad est la capacité d'un conducteur électrique isolé pour laquelle une addition de provoque une augmentation de son potentiel de (aspect électrostatique). Cette charge électrique composée de représente en fait une charge électrique de . (Le coulomb est aussi le nombre d'électrons traversant chaque seconde la section d'un conducteur parcouru par un courant de (aspect électrodynamique)).
Boundary scanBoundary scan is a method for testing interconnects (wire lines) on printed circuit boards or sub-blocks inside an integrated circuit. Boundary scan is also widely used as a debugging method to watch integrated circuit pin states, measure voltage, or analyze sub-blocks inside an integrated circuit. The Joint Test Action Group (JTAG) developed a specification for boundary scan testing that was standardized in 1990 as the IEEE Std. 1149.1-1990.
Joint Test Action GroupLe JTAG (pour Joint Test Action Group) est le nom de la norme IEEE 1149.1 intitulée « Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture », qui été normalisée en 1990. Le terme JTAG, désignant le groupe de travail qui a conçu la norme, est abusivement (mais très largement) utilisé au lieu du terme générique Boundary Scan, ou du sigle TAP (Test Access Port, port d'accès de test). La technique de boundary scan (littéralement, « scrutation des frontières ») est conçue pour faciliter et automatiser le test des cartes électroniques numériques.
Programmation in-situvignette|Dans l'adaptateur de programmation système La programmation in-situ (In-System Programming ou ISP) est une fonctionnalité qui permet aux composants électroniques (microcontrôleurs en particulier) d'être (re)programmés alors qu'ils sont déjà en place dans le système électronique qu'ils doivent piloter. Ceci évite d'avoir besoin de programmer le composant en dehors du montage complet à l'aide d'un programmateur dédié.
Built-in self-testUn built-in self-test, souvent appelé par l'acronyme BIST, est un mécanisme permettant à un système matériel , ou comprenant les deux, de se diagnostiquer lui-même. Le diagnostic peut être déclenché soit par l'utilisateur soit automatiquement. Si le diagnostic se fait automatiquement, il peut se faire à intervalle régulier, par déclenchement d'un circuit d'autosurveillance ou encore en continu. On trouve souvent ce mécanisme dans les circuits intégrés, car il permet une automatisation de la vérification du circuit.
