Cross slipIn materials science, cross slip is the process by which a screw dislocation moves from one slip plane to another due to local stresses. It allows non-planar movement of screw dislocations. Non-planar movement of edge dislocations is achieved through climb. Since the Burgers vector of a perfect screw dislocation is parallel to the dislocation line, it has an infinite number of possible slip planes (planes containing the dislocation line and the Burgers vector), unlike an edge or mixed dislocation, which has a unique slip plane.
Metal–semiconductor junctionIn solid-state physics, a metal–semiconductor (M–S) junction is a type of electrical junction in which a metal comes in close contact with a semiconductor material. It is the oldest practical semiconductor device. M–S junctions can either be rectifying or non-rectifying. The rectifying metal–semiconductor junction forms a Schottky barrier, making a device known as a Schottky diode, while the non-rectifying junction is called an ohmic contact.
Neutron radiationNeutron radiation is a form of ionizing radiation that presents as free neutrons. Typical phenomena are nuclear fission or nuclear fusion causing the release of free neutrons, which then react with nuclei of other atoms to form new nuclides—which, in turn, may trigger further neutron radiation. Free neutrons are unstable, decaying into a proton, an electron, plus an electron antineutrino. Free neutrons have a mean lifetime of 887 seconds (14 minutes, 47 seconds). Neutron radiation is distinct from alpha, beta and gamma radiation.
Microscope à force atomiquethumb|350px|Le premier microscope à force atomique du monde, au musée de la Science de Londres. Le microscope à force atomique (AFM pour atomic force microscope) est un type de microscope à sonde locale permettant de visualiser la topographie de la surface d'un échantillon. Inventé en 1985, par Gerd Binnig, Calvin Quate et Christoph Gerber, ce type de microscopie repose essentiellement sur l'analyse d'un objet point par point au moyen d'un balayage via une sonde locale, assimilable à une pointe effilée.
Room temperatureColloquially, room temperature is a range of air temperatures that most people prefer for indoor settings. These temperatures feel comfortable to people wearing typical indoor clothing. Human comfort can extend beyond this range depending on humidity, air circulation and other factors. In certain fields, like science and engineering, and within a particular context, room temperature can mean different agreed-upon ranges. In contrast, ambient temperature is the actual temperature, as measured by a thermometer, of the air (or other medium and surroundings) in any particular place.
Ion beamAn ion beam is a type of charged particle beam consisting of ions. Ion beams have many uses in electronics manufacturing (principally ion implantation) and other industries. A variety of ion beam sources exists, some derived from the mercury vapor thrusters developed by NASA in the 1960s. The most common ion beams are of singly-charged ions. Ion current density is typically measured in mA/cm^2, and ion energy in eV.
MétalEn chimie, les métaux sont des matériaux dont les atomes sont unis par des liaisons métalliques. Il s'agit de corps simples ou d'alliages le plus souvent durs, opaques, brillants, bons conducteurs de la chaleur et de l'électricité. Ils sont généralement malléables, c'est-à-dire qu'ils peuvent être martelés ou pressés pour leur faire changer de forme sans les fissurer, ni les briser. De nombreuses substances qui ne sont pas classées comme métalliques à pression atmosphérique peuvent acquérir des propriétés métalliques lorsqu'elles sont soumises à des pressions élevées.
Générations futuresLes générations futures sont les générations d'êtres humains qui viendront après les générations actuelles. Les besoins des générations futures sont l'un des fondements du concept de développement durable, dont la définition est la suivante : Le philosophe allemand Hans Jonas a posé dès 1979 la question de savoir si l'obligation d'avoir une postérité avait besoin d'être fondée : Jonas identifie un danger psychologique dans la promesse de prospérité et souligne que le progrès scientifique a un prix.
Loi de Hall-PetchIn materials science, grain-boundary strengthening (or Hall–Petch strengthening) is a method of strengthening materials by changing their average crystallite (grain) size. It is based on the observation that grain boundaries are insurmountable borders for dislocations and that the number of dislocations within a grain has an effect on how stress builds up in the adjacent grain, which will eventually activate dislocation sources and thus enabling deformation in the neighbouring grain as well.
Sonde ionique focaliséeLa sonde ionique focalisée, plus connue sous le nom du sigle anglais FIB (Focused ion beam), est un instrument scientifique qui ressemble au microscope électronique à balayage (MEB). Mais là où le MEB utilise un faisceau d'électrons focalisés pour faire l'image d'un échantillon, la "FIB" utilise un faisceau d'ions focalisés, généralement du gallium. Il est en effet facile de construire une source à métal liquide (LMIS, de l'anglais liquid metal ion source). Contrairement aux MEB, les FIB sont destructives.
