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Manufacturing engineering
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Composants de microscopie électronique
Couvre les composants du microscope électronique, les systèmes de vide, les aberrations, les détecteurs et les porte-échantillons.
Technologies SEM avancées et exemples
Explore les technologies SEM avancées, l'imagerie basse tension, le SEM haute résolution et les capacités analytiques avec des exemples pratiques.
Microscopie électronique à balayage
Explore les principes de la microscopie électronique à balayage, les contrastes de signaux, les facteurs de résolution et les interactions d'échantillons.
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Analyses microscopiques et sources d'électrons
Couvre les analyses microscopiques utilisant la microscopie optique et électronique, ainsi que les sources d'électrons.
SEM Basics: Introduction à la microscopie électronique
Introduit les bases de la microscopie électronique à balayage, couvrant les sources d'électrons, les lentilles, le système de vide et les détecteurs.
Amélioration des capacités du microscope électronique : source d'émission en champ froid
Concevoir une nouvelle source d'émission d'électrons pour le champ froid afin d'améliorer les capacités du microscope électronique.
Microscopie électronique de balayage : Fondamentaux et applications
Couvre les bases de la microscopie électronique à balayage, y compris l'interaction de la matière électronique, les techniques d'imagerie et les sujets avancés connexes.
Composantes et fonctionnement du TEM
Explore les composants et le fonctionnement de la microscopie électronique de transmission, couvrant les systèmes de vide, l'émission d'électrons, les aberrations de lentilles et les types de détecteurs.
Vérification de la qualité de la couche de sondes
Couvre l'évaluation de la qualité des couches de sondes à l'aide du miroir résonnant, de la résonance de Plasmon de surface et de la microscopie électronique à balayage.