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Couvre la source d'ions ALIS He et son application en microscopie à haute résolution, fournissant des détails de surface et un contraste de matériau remarquables.
Explore la microscopie électronique à balayage environnemental (ESEM) pour l'imagerie de divers échantillons sans préparation, couvrant le balayage de faisceau d'électrons, la manipulation de pression, la diffusion d'électrons, l'analyse de rayons X et les transitions de phase.
Explore les fondamentaux de la microscopie à sonde à balayage, les types de pointes et les modes AFM pour l'imagerie et la manipulation à l'échelle nanométrique.
Couvre les bases de la microscopie électronique à balayage, y compris les principes de fonctionnement, la génération d'images, la production de signaux et les défis.
Explore la lithographie par faisceau d'électrons (EBL), son aperçu des outils, les niveaux de vide, les sources d'électrons et les canons pour la fabrication de dispositifs de moins de 20 nm.
