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Couvre les techniques de microscopie électronique, les composants et les applications, y compris le développement historique, la correction des aberrations de la lentille et l'interaction des électrons avec la matière.
Fournit une vue d'ensemble de la physique des jonctions métal-semiconducteur, y compris la fonction de travail, la barrière Schottky, les contacts Ohmic et les hétérojonctions.
Explore l'application des nanotubes de carbone dans l'amélioration du transfert d'électrons pour les biocapteurs, en mettant l'accent sur leur rôle dans l'amélioration des limites de sensibilité et de détection.
Explore les dispositifs semi-conducteurs développement historique, résistance au contact, caractéristiques FET, limite quantique, contacts de matériaux 2D, et mécanismes de charge-injection.
Couvre les composants et les technologies utilisés en microscopie électronique, y compris les détecteurs, les lentilles, les aberrations et les porte-échantillons.
Explore la lithographie par faisceau d'électrons (EBL), son aperçu des outils, les niveaux de vide, les sources d'électrons et les canons pour la fabrication de dispositifs de moins de 20 nm.
Explore les principes de la microscopie électronique à balayage, les contrastes de signaux, les facteurs de résolution et les interactions d'échantillons.
