Concept
Design for testing
Séances de cours associées (13)
ATPG combinatoire et séquentiel
Couvre le D-calcul et les procédures d'implication pour la détection de défaut dans les systèmes VLSI.
VLSI Testing : Techniques et économie
Explore les techniques de test pour les systèmes VLSI numériques, couvrant la modélisation des défauts, la génération de modèles de test et la conception pour la testabilité.
Essai des systèmes VLSI: ATPG combinatoire et séquentiel
Couvre la génération de modèles vectoriels de test, la modélisation des défauts, les tests structurels et fonctionnels et la mise en œuvre de l'expansion dans le temps.
Test des systèmes VLSI
Explore les défauts, les erreurs et les défaillances dans les systèmes VLSI, y compris les modèles de défaillance et les défis de test.
Essai des systèmes VLSI: ATTPG et couverture par défaut
Explore la génération de vecteurs de test, les algorithmes ATPG, la couverture des défauts et la sensibilisation au chemin dans les systèmes VLSI.
Tendances de mise à l'échelle: transistors, puissance et évolution du matériel
Explore l'évolution des systèmes matériels, des transistors au parallélisme moderne et les défis des limitations de puissance.
Test des systèmes VLSI
Explore les défauts, les erreurs et les modèles de défauts dans les systèmes VLSI, en mettant l'accent sur l'effondrement des défauts et la domination.
Test des systèmes VLSI : BIST et Response Compaction
Couvre les techniques BIST, LFSR, Response Compaction, MISR et BILBO dans les systèmes VLSI.
Auto-test intégré (BIST): Techniques et implémentations
Explore les techniques d'auto-test intégré (BIST) dans les systèmes VLSI, couvrant les avantages, les inconvénients, les détails de mise en œuvre et l'utilisation des registres à décalage à rétroaction linéaire (LFSR) pour la génération de modèles de test.
Analyse de testabilité : SCOAP Measures
Introduit des mesures SCOAP pour l'analyse de testabilité dans les systèmes VLSI, couvrant la contrôlabilité, l'observabilité et la prédiction de longueur de vecteur de test.