Posez n’importe quelle question sur les cours, conférences, exercices, recherches, actualités, etc. de l’EPFL ou essayez les exemples de questions ci-dessous.
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Couvre les bases de la microscopie par sonde à balayage, en se concentrant sur la STM et l'AFM, en expliquant les principes, les techniques d'imagerie et les méthodes de spectroscopie.
Explore les nombres magiques dans les nanoparticules, les mécanismes de croissance des couches minces et le courant tunnel dans les configurations STM.
Explore les principes et les applications de la microscopie électronique à balayage en micro et nanofabrication, couvrant les signaux électroniques, les problèmes de charge et les mesures dimensionnelles.
Explore les méthodes et les défis de la préparation des échantillons pour l'observation TEM, en soulignant l'importance de la taille, de la composition et des mesures de sécurité.
Couvre les bases de la microscopie électronique à balayage, y compris les interactions électron-échantillon, les détecteurs, la préparation des échantillons, la formation d'images, la résolution et les contrastes dans les images SEM.
Couvre les aspects généraux et les techniques de la microscopie, en mettant l'accent sur l'importance de la résolution et en explorant le tunneling de balayage et la microscopie à force atomique.
Couvre les principes et les applications de la microscopie par sonde à balayage, y compris les principes de fonctionnement, les différents systèmes et les applications d'imagerie.
