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Explore l'utilisation de résistances en silicium comme capteurs thermiques et thermomètres à diodes, en discutant des relations température-résistance et des mesures différentielles.
S'intéresse aux fondamentaux de la SRAM, à la structure des cellules de bits, aux opérations de lecture/écriture, aux contraintes de dimensionnement et à l'impact sur la loi de Moore.
Explore les techniques de test pour les systèmes VLSI numériques, couvrant la modélisation des défauts, la génération de modèles de test et la conception pour la testabilité.
Détaille le processus de fabrication des jonctions Josephson, en soulignant la fiabilité et les caractéristiques identiques pour les applications de calcul quantique.
Explore les défauts, les erreurs et les modèles de défauts dans les systèmes VLSI, en mettant l'accent sur l'effondrement des défauts et la domination.
Explore les circuits CMOS pour la détection de l'ADN, en se concentrant sur les méthodes de mesure de capacité basées sur la charge et la détection ampérométrique.
