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Explique la détermination de l'épaisseur du film à l'aide de techniques XPS et AES, couvrant les principes, l'instrumentation et les comparaisons analytiques.
Explore les principes EDS et ESEM, la détection des rayons X, l'efficacité de l'ionisation, la loi de Moseley et les environnements d'échantillons ESEM.
Couvre la microanalyse de rayons X à dispersion d'énergie, explorant la génération, la détection, la quantification et les défis de rayons X dans l'analyse élémentaire précise.
Couvre les techniques d'imagerie magnétique par rayons X, y compris les techniques XMCD, XRMS et l'optique par rayons X, pour l'étude des matériaux et domaines magnétiques.
