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Cette séance de cours couvre les principes et les applications de la microscopie électronique in situ, en se concentrant sur des techniques telles que la tomographie aux rayons X résolue dans le temps, l'observation de l'évolution de l'échantillon et la TEM environnementale pour SOFC. Il traite également de l'analyse des surfaces de fracture, des mesures de contrainte et des modèles de déformation.