STEM & EDX

Cette séance de cours couvre les principes de CTEM / SEM, les sources d'électrons, les faisceaux d'électrons, les détecteurs et le vide en microscopie électronique. Il se penche sur STEM, HAADF, EDX microanalyse, et l'interaction des électrons avec des échantillons. L'instructeur explique le fonctionnement des microscopes en mode diffraction, l'influence de la longueur de la caméra et la détection des électrons diffractés. La séance de cours traite également de la diffusion incohérente à angle élevé, de l'imagerie HAADF, de la génération de rayons X, des détecteurs EDX et des méthodes de quantification. Divers exemples et applications en science des matériaux, tels que les fils supraconducteurs et les céramiques PZT, sont présentés. L'utilisation de FIB pour la préparation d'échantillons et l'analyse des joints de grains à l'aide d'EDX sont également explorées.