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Cette séance de cours couvre les bases de la diffraction de rétrodiffusion électronique (EBSD) en microscopie électronique à balayage (SEM), y compris les mesures d'orientation, l'identification de phase et les techniques près de la surface. Il explique comment les patrons de DSE sont obtenus, l'importance de la préparation des échantillons et l'acquisition et l'indexation des DSE. La séance de cours traite également de la transformée de Hough pour la détection de bande, de l'influence de la tension d'accélération et de la précision spatiale et angulaire de l'EBSD. En outre, il explore les applications de l'EBSD dans la micro-cristallographie, l'identification de phase et l'analyse de texture, en présentant des exemples de solidification directionnelle et d'identification de phase dans différents matériaux.