Explore les techniques de conception pour la testabilité dans les systèmes VLSI, couvrant les méthodes ad hoc et structurées, la conception de numérisation et les normes de test modernes.
Couvre l'analyse temporelle des circuits synchrones, en se concentrant sur les bascules, les contraintes temporelles et les problèmes de métastabilité.
Couvre les éléments de mémoire dynamiques, les verrous, les bascules, les paramètres de synchronisation, le décalage d'horloge et la canalisation synchrone.
Explore les techniques de test pour les systèmes VLSI numériques, couvrant la modélisation des défauts, la génération de modèles de test et la conception pour la testabilité.
Couvre les fondamentaux des processeurs, de la logique numérique à l'exécution de programme, y compris les composants comme ALU, fichier de registre, et la logique de contrôle.
Explore la conception de datapath et la logique de contrôle pour l'exécution des instructions ISA, en mettant l'accent sur le contrôle filaire et l'analyse des performances.
