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Explore les principes de la microscopie électronique à haute résolution, y compris le transfert de contraste, la formation d'images et les correcteurs Cs.
Explore les modes d'imagerie en TEM, couvrant les interactions électron-matière, les modèles de diffraction, la formation d'images, les principes de contraste et les configurations de détecteurs.
Couvre les bases du réseau réciproque dans la diffraction des électrons, y compris la géométrie du vecteur de diffraction et les propriétés des vecteurs cellulaires de l'unité de réseau réciproque.
Présente aux étudiants des expériences pratiques en métrologie, couvrant des sujets comme les expériences à photo unique, l'AFM, le SEM et l'instrumentation clé.
Explore les techniques de préparation d'échantillons pour la TEM, telles que la méthode du coin clivé et l'ultramicrotomie, en soulignant leur importance dans l'obtention d'échantillons de haute qualité.
Couvre la source d'ions ALIS He et son application en microscopie à haute résolution, fournissant des détails de surface et un contraste de matériau remarquables.
