Séance de cours

Plasma Focused Ion Beam: Applications et Techniques

Description

Cette séance de cours couvre les principes et les applications de la technologie Plasma Focused Ion Beam (PFIB), en se concentrant sur les techniques d'imagerie et de fraisage de haute précision utilisant un système PFIB Helios G4. Les sujets abordés comprennent les composants des colonnes SEM et FIB, les systèmes d'injection de gaz, les études de propriétés électriques et les contrôles automatisés des systèmes. L'instructeur, Carsten Putzke, démontre l'utilisation de MultiGIS pour le dépôt de matériaux, EasyLift pour la manipulation d'échantillons et les études automatisées d'irradiation. La séance de cours souligne l'importance d'un positionnement précis de l'échantillon et de la maintenance du système pour des résultats optimaux.

À propos de ce résultat
Cette page est générée automatiquement et peut contenir des informations qui ne sont pas correctes, complètes, à jour ou pertinentes par rapport à votre recherche. Il en va de même pour toutes les autres pages de ce site. Veillez à vérifier les informations auprès des sources officielles de l'EPFL.

Graph Chatbot

Chattez avec Graph Search

Posez n’importe quelle question sur les cours, conférences, exercices, recherches, actualités, etc. de l’EPFL ou essayez les exemples de questions ci-dessous.

AVERTISSEMENT : Le chatbot Graph n'est pas programmé pour fournir des réponses explicites ou catégoriques à vos questions. Il transforme plutôt vos questions en demandes API qui sont distribuées aux différents services informatiques officiellement administrés par l'EPFL. Son but est uniquement de collecter et de recommander des références pertinentes à des contenus que vous pouvez explorer pour vous aider à répondre à vos questions.