Explore la diffraction des électrons du faisceau convergent, les principes de couverture, l'alignement des échantillons, les effets d'épaisseur et les ressources pour une étude plus approfondie.
Explore les techniques avancées en microscopie électronique de transmission, en se concentrant sur l'imagerie de contraste de phase et les réglages de la caméra.
Explore la diffusion de faisceaux multiples dans la diffraction des électrons, en se concentrant sur les modèles de diffraction de l'axe de zone et les approches théoriques.
Explore les principes de la microscopie électronique à transmission par balayage (STEM), les détecteurs, les mécanismes de contraste et les applications en imagerie haute résolution.
