Lithographie par faisceau d'électrons: II Electron Optics and Beam Deflection
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Explore les champs électromagnétiques, les forces, les ondes, l'optique, l'interférence, la diffraction, la réfraction, la réflexion, les lentilles et les instruments.
Explore les modes d'imagerie en TEM, couvrant les interactions électroniques, la diffraction, la formation de contraste et la correction de l'astigmatisme.
Explore les composants et le fonctionnement de la microscopie électronique de transmission, couvrant les systèmes de vide, l'émission d'électrons, les aberrations de lentilles et les types de détecteurs.
Couvre les principes et les applications de la microscopie électronique de transmission, y compris l'imagerie, la diffraction, les mécanismes de contraste et les techniques in situ.