Explore la mise en œuvre de portes logiques dans le matériau semi-conducteur, en se concentrant sur les technologies TTL et CMOS, les circuits intégrés, les dangers, les horloges, les bascules D et le débouncing des commutateurs.
Couvre l'analyse temporelle des circuits synchrones, en se concentrant sur les bascules, les contraintes temporelles et les problèmes de métastabilité.
Couvre les éléments de mémoire dynamiques, les verrous, les bascules, les paramètres de synchronisation, le décalage d'horloge et la canalisation synchrone.
Introduit des mesures SCOAP pour l'analyse de testabilité dans les systèmes VLSI, couvrant la contrôlabilité, l'observabilité et la prédiction de longueur de vecteur de test.
Fournit une vue d'ensemble de la technologie derrière les portes logiques, couvrant les familles TTL et CMOS et abordant les dangers statiques et dynamiques, les horloges fermées et le débouncing des commutateurs.
