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Explore les bases de la diffraction électronique, y compris la loi de Bragg, le réseau réciproque et des applications telles que la discrimination en phase cristalline.
Couvre les techniques d'imagerie magnétique par rayons X, y compris les techniques XMCD, XRMS et l'optique par rayons X, pour l'étude des matériaux et domaines magnétiques.
Couvre les bases de la microscopie électronique à balayage, y compris les interactions électron-échantillon, les détecteurs, la préparation des échantillons, la formation d'images, la résolution et les contrastes dans les images SEM.
Explore les principes de la microscopie électronique à transmission par balayage (STEM) pour la microscopie analytique, couvrant la diffraction TEM, les détecteurs et l'analyse EDS.
Explore les modes d'imagerie en TEM, couvrant les interactions électroniques, la diffraction, la formation de contraste et la correction de l'astigmatisme.
Couvre la corrélation et les corrélations croisées dans l'analyse des données sur la pollution atmosphérique, y compris les séries chronologiques, les autocorrelations, l'analyse de Fourier et le spectre de puissance.
