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Explore les rôles des tests dans les systèmes VLSI, les différentes méthodologies de test, l'analyse des coûts, les facteurs affectant le rendement et l'importance des tests dans les technologies modernes.
Explore les défauts, les erreurs et les modèles de défauts dans les systèmes VLSI, en mettant l'accent sur l'effondrement des défauts et la domination.
Explore l'utilisation de nanofils semi-conducteurs comme biocapteurs pour la détection sans étiquette des analytes chargés, en mettant l'accent sur la haute sensibilité et la nécessité de poursuivre les recherches.
Explore le flux de conception RTL, l'intégration au niveau de la puce, les cellules standard et l'analyse de synchronisation statique dans la conception VLSI.
Explore l'évolution des systèmes numériques des transistors aux circuits intégrés et leur impact sur les applications grand public et les technologies IoT.
Explore les principes et les méthodologies de conception des circuits intégrés, couvrant les flux de conception, les styles VLSI, les niveaux d'abstraction et l'écosystème des semi-conducteurs.
