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Explore les techniques de conception pour la testabilité dans les systèmes VLSI, couvrant les méthodes ad hoc et structurées, la conception de numérisation et les normes de test modernes.
Explore les techniques de test pour les systèmes VLSI numériques, couvrant la modélisation des défauts, la génération de modèles de test et la conception pour la testabilité.
Couvre la génération de modèles vectoriels de test, la modélisation des défauts, les tests structurels et fonctionnels et la mise en œuvre de l'expansion dans le temps.
Explore la transition des algorithmes aux architectures matérielles dans la conception de systèmes numériques, couvrant les architectures isomorphes, l'implémentation VHDL et les métriques d'efficacité matérielle.
Explore les techniques de compactage de réponse dans les tests VLSI, y compris le compacteur de compte, le compacteur de compte de transition, la vérification de parité, le LFSR, le MISR et le BILBO.
