Posez n’importe quelle question sur les cours, conférences, exercices, recherches, actualités, etc. de l’EPFL ou essayez les exemples de questions ci-dessous.
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Couvre les bases de la microscopie électronique à balayage, y compris les principes de fonctionnement, la génération d'images, la production de signaux et les défis.
Couvre la détection des bords et des contours dans les images, y compris les méthodes basées sur les gradients, l'opérateur laplacien, et des méthodes plus complexes.
Explore les caractéristiques des caméras d'imagerie, la résolution spatiale, les sources de bruit et la plage dynamique pour des performances optimales dans les applications de microscopie.
Explore divers détecteurs de microscopie, leurs structures et leurs applications dans les systèmes d'imagerie numérique, en mettant l'accent sur l'imagerie à faible luminosité et les avantages technologiques CMOS.
Explore le traitement d'images en 2D et 3D, couvrant les conditions d'imagerie idéales, l'analyse d'histogrammes, les outils, les étapes de reconstruction 3D et la visualisation.
Explore la stéréo géométrique, la géométrie épipolaire, les méthodes de corrélation, les occlusions et les défis de mise en œuvre en temps réel dans les systèmes de vision stéréoscopique.
Explore la reconstruction volumique 3D à l'aide de la microscopie FIB / SEM, de la reconnaissance des particules, de la détection des bords, de la séparation des bassins versants et de l'analyse quantitative de la microstructure.
Couvre la transformée de Fourier inverse, le filtrage de fréquence, la segmentation, le seuillage, l'estimation de la taille des particules et l'analyse à l'aide d'ImageJ.
