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Explore les principes EDS et ESEM, la détection des rayons X, l'efficacité de l'ionisation, la loi de Moseley et les environnements d'échantillons ESEM.
Explore la microscopie électronique à balayage électronique (ESEM) pour l'imagerie d'échantillons dans divers environnements et l'étude des transitions de phase.
Introduit la diffusion dynamique dans TEM, couvrant la diffusion élastique unique et multiple, la diffraction à 2 faisceaux, la théorie des ondes Bloch et l'intensité de diffusion.
Présente EBSD et ESEM, couvrant l'acquisition, la préparation d'échantillons, l'indexation, les applications et l'analyse de données, ainsi que le fonctionnement et les avantages d'ESEM.
Explore la spectroscopie à rayons X dispersive (EDS) en microscopie électronique, couvrant la génération de rayons X, la détection, la quantification et la cartographie des éléments dans les échantillons.
Explore la diffusion de faisceaux multiples dans la diffraction des électrons, en se concentrant sur les modèles de diffraction de l'axe de zone et les approches théoriques.
