Couvre les bases de la microscopie par sonde à balayage, en se concentrant sur la STM et l'AFM, en expliquant les principes, les techniques d'imagerie et les méthodes de spectroscopie.
Couvre la métrologie à l'échelle nanométrique, la microscopie optique, la microscopie à force atomique, la microscopie électronique et la redéfinition des unités.
Explore la microscopie de la Force atomique, qui couvre les principes, les applications, la résolution, les mécanismes de rétroaction et les techniques d'imagerie.
Couvre la source d'ions ALIS He et son application en microscopie à haute résolution, fournissant des détails de surface et un contraste de matériau remarquables.
Introduit des techniques de caractérisation morphologique des polymères, en mettant l'accent sur le chevauchement entre la science des matériaux organiques et les biosciences.
Explore les principes de microscopie optique, les protéines fluorescentes, le découpage optique et les fonctions de transfert de modulation en imagerie cellulaire.
Explore les encorbellements à détection automatique dans la microscopie par sonde à balayage et les avantages des systèmes capteurs-actionneurs intégrés pour la collecte de données à grande vitesse.
Couvre les bases de la microscopie par sonde de balayage, la fabrication des bouts et la microfabrication nano-tip pour l'imagerie et la manipulation à l'échelle nanométrique.
