Amélioration des capacités du microscope électronique : source d'émission en champ froid
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Introduit les bases de la microscopie électronique, couvrant les composants, les interactions, les modes d'imagerie et les techniques de nanofabrication.
Couvre les bases de la microscopie électronique à balayage, y compris l'interaction de la matière électronique, les techniques d'imagerie et les sujets avancés connexes.
Introduit la microscopie électronique, couvrant l'organisation pratique, la préparation d'échantillon, l'interaction rayonnement-matière, et les mécanismes de détecteur.
Explore les principes de la microscopie électronique à transmission par balayage (STEM) pour la microscopie analytique, couvrant la diffraction TEM, les détecteurs et l'analyse EDS.
Présente les bases de la microscopie électronique de transmission, couvrant l'interface utilisateur TEM, les paramètres de la caméra, la vue d'ensemble du vide et l'analyse d'images.
Couvre le développement historique et les composantes clés de la microscopie électronique de transmission, y compris le pistolet à électrons, les lentilles, les ouvertures et les porte-échantillons.
Explore les défis et les solutions pour gérer la dose d'électrons en microscopie, en soulignant l'importance d'un suivi et d'une analyse précis des doses.
