Concept
Conception assistée par ordinateur pour l'électronique
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Circuits numériques synchrones de base et conception RTL
Couvre la génération d'impulsions, la détection de bord, les erreurs de conception courantes et les signaux d'horloge / réinitialisation dans les circuits logiques.
L’effort logique : principes fondamentaux de la conception VLSI
Couvre la méthode d'effort logique pour optimiser le retard logique et l'impact de dimensionnement de la porte.
Semicustom RTL Design : Frontend avec Synthesis
Couvre les bases de la conception VLSI, en se concentrant sur le flux de conception semi-personnalisé.
Semicustom RTL Design: Backend
Explore le flux de conception du backend dans la conception ASIC semi-personnalisée, couvrant la mise en page, la génération d'arbre d'horloge et la préparation du ruban adhésif.
Vérification et optimisation du timing
Couvre la vérification de la synchronisation, la modélisation du retard de la porte, le retard du réseau, les chemins sensibilisables et l'analyse du chemin critique dans les circuits numériques.
VLSI Testing : Techniques et économie
Explore les techniques de test pour les systèmes VLSI numériques, couvrant la modélisation des défauts, la génération de modèles de test et la conception pour la testabilité.
Conception et Fondamentaux des Systèmes Numériques
Explore la construction et les concepts clés des systèmes numériques, y compris la représentation binaire, les différences matériel-logiciel et les options de mise en œuvre.
Test des systèmes VLSI
Explore les défauts, les erreurs et les modèles de défauts dans les systèmes VLSI, en mettant l'accent sur l'effondrement des défauts et la domination.
Effort logique : taille optimale et efforts de branche
Explore l'effort logique, le dimensionnement optimal et les efforts de branchement dans la conception VLSI.
Essai des systèmes VLSI: ATTPG et couverture par défaut
Explore la génération de vecteurs de test, les algorithmes ATPG, la couverture des défauts et la sensibilisation au chemin dans les systèmes VLSI.