Test des systèmes VLSI : BIST et Response Compaction
Graph Chatbot
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Explore les techniques d'auto-test intégré (BIST) dans les systèmes VLSI, couvrant les avantages, les inconvénients, les détails de mise en œuvre et l'utilisation des registres à décalage à rétroaction linéaire (LFSR) pour la génération de modèles de test.
Se penche sur la formation et les applications des modèles Vision-Language-Action, en mettant l'accent sur le rôle des grands modèles linguistiques dans le contrôle robotique et le transfert des connaissances web. Les résultats des expériences et les orientations futures de la recherche sont mis en évidence.
Couvre la génération de modèles vectoriels de test, la modélisation des défauts, les tests structurels et fonctionnels et la mise en œuvre de l'expansion dans le temps.
