Spectroscopie auger et microscopie par sonde à balayage
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Explore les principes de la microscopie électronique à transmission par balayage (STEM), les détecteurs, les mécanismes de contraste et les applications en imagerie haute résolution.
Déplacez-vous dans des propriétés nanométriques, mettant l'accent sur les effets de surface et les phénomènes quantiques, explorant des propriétés électroniques, mécaniques, magnétiques, photoniques et chimiques uniques à l'échelle nanométrique.
Couvre les techniques de caractérisation de surface telles que la spectroscopie SPM, Raman et IR, y compris les modes AFM, les artefacts, l'étalonnage, les vibrations moléculaires et les principes de spectroscopie IR / Raman.
Couvre les fondamentaux des circuits supraconducteurs et leurs applications en optique quantique, y compris les jonctions Josephson et les boîtes de paires Cooper.
Introduction de la spectroscopie par photoélectrons à rayons X (XPS) pour l'analyse de surface, couvrant les principes, les applications, le processus d'analyse et les techniques de profilage en profondeur.
Explore les méthodes d'analyse de surface à l'aide d'électrons, d'ions, d'atomes et de photons, en soulignant l'importance du ToF-SIMS pour une analyse de surface approfondie dans divers domaines.
Explore la perspective historique, les propriétés et les applications des rayons X, y compris la diffraction, la résolution atomique et les couleurs spectrales des éléments.
Couvre les bases de la microscopie électronique à balayage, y compris les interactions électron-échantillon, les détecteurs, la préparation des échantillons, la formation d'images, la résolution et les contrastes dans les images SEM.
Explore les niveaux d'énergie des particules, des atomes de type hydrogène, des nombres quantiques, des liaisons moléculaires et des états vibratoires.
